Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Messen der Form von zumindest einem Abschnitt eines Objektes durch Projektion eines Musters auf den Abschnitt und Abbilden des rückprojizierten Musters auf einen Sensor. Um mit konstruktiv einfachen Maßnahmen genau den zumindest einen Abschnitt des Objektes messen zu können, wird vorgeschlagen, dass das auf den Sensor rückprojizierte Muster unter Zugrundelegung des plenoptischen Prinzips analysiert wird.The invention relates to a method of measuring the shape of at least a portion of an object by projecting a pattern on the portion and imaging the backprojected pattern onto a sensor. In order to be able to measure the at least one section of the object with structurally simple measures, it is proposed that the pattern backprojected onto the sensor be analyzed on the basis of the plenoptic principle.
