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荷電粒子照射システムおよび照射計画装置
专利权人:
株式会社日立製作所
发明人:
藤井 祐介,藤本 林太郎,梅澤 真澄,松浦 妙子,宮本 直樹,清水 伸一,寅松 千枝,▲高▼尾 聖心,二本木 英明,平田 雄一,梅垣 菊男
申请号:
JP2012068047
公开号:
JP5976353B2
申请日:
2012.03.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a charged particle irradiation system and irradiation planning device capable of shortening an irradiation time (a treatment time) and forming a dosage distribution as planned in a particle irradiation system by a scanning irradiation method.SOLUTION: A control system 7 implements: following irradiation for correcting an excitation current value of scanning electromagnets 31 and 32 on the basis of a signal from a moving body tracking device 49 as a target monitoring device and irradiating an irradiation target 26 with a charged particle beam and gate irradiation for controlling the starting and stopping of irradiation of the charged particle beam emitted from an irradiation device 21 on the basis of a signal from the target monitoring device.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】スキャニング照射法による粒子線照射システムにおいて、照射時間(治療時間)を短縮しかつ計画通りの線量分布を形成することができる荷電粒子照射システムおよび照射計画装置を提供する。【解決手段】制御システム7は、標的監視装置である動体追跡装置49からの信号に基づき走査電磁石31,32の励磁電流値を補正して荷電粒子ビームを照射標的26に照射する追尾照射と、標的監視装置からの信号に基づき照射装置21から照射される荷電粒子ビームの照射開始と照射停止を制御するゲート照射とを行う。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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