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一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法
- 专利权人:
- 中国地质科学院矿产综合利用研究所
- 发明人:
- 李可及,刘卫,李刚,卢彦,赵改红
- 申请号：
- CN201610114140.0
- 公开号：
- CN105738394A
- 申请日:
- 2016.03.01
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 蒋斯琪
- 摘要：
- 本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，具体流程如下：筛选含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质设计标准曲线，选择混合熔剂熔融制备标准样品，确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应，建立标准曲线，以定值样品验证方法准确度及重现性，测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷；本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段，相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应，使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力；本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点，单个矿石样品平均处理时间不超过20 min。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
