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基于x射线荧光光谱的不同区域土壤聚类分析方法
专利权人:
北京市农林科学院
发明人:
韩平,王纪华,潘立刚,陆安祥,马智宏
申请号:
CN201110086697.5
公开号:
CN102254175A
申请日:
2011.04.07
申请国别(地区):
中国
年份:
2011
代理人:
王莹
摘要:
本发明公开了一种基于x射线荧光光谱的不同区域土壤聚类分析方法,涉及农业与环境技术领域,包括以下步骤:S1:采集不同区域土壤样品;S2:采集所述土壤样品的x射线荧光光谱;S3:对所述x射线荧光光谱进行预处理;S4:利用模式识别法定性分析预处理后的x射线荧光光谱,得到所述不同区域土壤样品的相似度。本发明实现了基于x射线荧光光谱的土壤聚类分析,丰富了土壤聚类分析的研究,对于受不同区域土壤母质影响的x射线荧光光谱测定土壤重金属的方法具有指导意义。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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