高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉中元素含量的分析方法
- 专利权人:
- 南通大学
- 发明人:
- 宗丹,朱鹏,陈妍
- 申请号：
- CN201710343497.0
- 公开号：
- CN106990129A
- 申请日:
- 2017.05.16
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 徐激波
- 摘要：
- 本发明公开了一种高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉元素含量的分析方法。本发明中玻璃粉原材料的硼含量是利用高压消解以及混酸溶解的化学方法测出，同时，利用X‑射线荧光光谱仪测出固定硼含量的人工合成制样的锌、锑、铋强度，建立强度与含量的标准曲线从而推出在相应硼含量下，玻璃粉原材料中该锌、锑、铋的含量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
