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基于X射线荧光光谱和深度对抗学习的土壤微量元素含量分析预测方法
专利权人:
中国科学院合肥物质科学研究院
发明人:
陈天娇,王儒敬,谢成军,张洁,李瑞,陈红波
申请号:
CN201710324918.5
公开号:
CN107255647A
申请日:
2017.05.10
申请国别(地区):
中国
年份:
2017
代理人:
张祥骞
摘要:
本发明涉及基于X射线荧光光谱和深度对抗学习的土壤微量元素含量分析预测方法,与现有技术相比解决了土壤微量成分分析工作量大、耗时长的缺陷。本发明包括以下步骤:土壤样本的获取和预处理;构造基于生成网络和预测网络的深度对抗模型;对训练样本的X射线荧光光谱数据进行预处理;测试样本的微量元素成分含量的预测。本发明利用X射线荧光光谱与土壤成分之间的映射关系,结合深度对抗学习结构模型来进行土壤微量元素成分分析预测,满足土壤微量元素预测的精度要求。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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