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基于支持向量机的X射线荧光光谱分析方法及装置
- 专利权人:
- 北京农业质量标准与检测技术研究中心
- 发明人:
- 陆安祥,王纪华,田晓琴,付海龙,李芳
- 申请号：
- CN201410406583.8
- 公开号：
- CN104198512A
- 申请日:
- 2014.08.18
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 李相雨
- 摘要：
- 本发明提供了一种基于支持向量机的X射线荧光光谱分析方法及装置，其中，所述方法包括：采集训练集样品的X射线荧光光谱，提取所述荧光光谱上若干个数据点强度值；测定所述训练集样品的目标元素的含量；将所述强度值作为输入层数据，将所述目标元素的含量作为输出层数据，建立支持向量机的预测模型；采用遗传算法对所述预测模型进行训练，确定X射线荧光光谱分析目标元素的支持向量机模型的参数；采集预测集样品的X射线荧光光谱上若干个数据点强度值为所述X射线荧光光谱分析目标元素的支持向量机模型的输入层数据，得到所述预测集样品的对应目标元素的含量。通过上述的方法能够有效的获取模型参数，获得良好的预测效果。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
