微小粒子分析装置、微小粒子分析方法、プログラム及び微小粒子分析システム
- 专利权人:
- ソニー株式会社
- 发明人:
- 村木 洋介
- 申请号：
- JP20150505379
- 公开号：
- JPWO2014141878(A1)
- 申请日:
- 2014.02.19
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 微小粒子から発せられる蛍光についての複数種のスペクトルデータを容易に分離することができる微小粒子分析装置、微小粒子分析方法、プログラム及び微小粒子分析システムを提供する。微小粒子分析装置に設けられたデータ抽出部により、微小粒子から発せられた蛍光についてのスペクトルデータから、所定の情報を有するスペクトルデータを選択的に抽出する。このデータ抽出部は、微小粒子から発せられた蛍光についての複数の波長毎の強度を表した１又は複数種のスペクトルデータのうち、予め設定された波長領域内で前記強度が最大となるスペクトルデータを選択的に抽出することができる。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
