荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法
- 专利权人:
- 日本株式会社日立高新技术科学
- 发明人:
- 佐久田昌博
- 申请号：
- CN201310077549.6
- 公开号：
- CN103308539B
- 申请日:
- 2013.03.12
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 李辉`黄纶伟
- 摘要：
- 荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。本发明的目的是提供如下功能：关于在测定中发生了移动的试样，根据试样图像的变化而自动检测发生了移动的情况。作为解决手段，具有拍摄被测定物的试样图像的摄像部，具有临时保存测定开始时刻的试样图像并与测定中或测定后的最新的试样图像进行比较的功能，还具有如下功能：如果图像处理的结果是差分为阈值以上，则通过显示部、蜂鸣音、信号塔、向远程管理终端的通知，对测定者发出警告。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
