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電気光学プローブ、電磁波測定装置および電磁波測定方法
- 专利权人:
- 国立大学法人大阪大学;アークレイ株式会社
- 发明人:
- 久武 信太郎,永妻 忠夫,内田 裕久
- 申请号：
- JP20160127308
- 公开号：
- JP2017015703(A)
- 申请日:
- 2016.06.28
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】電気光学結晶を用いて電磁波を良好に測定することが可能な電気光学プローブ、電磁波測定装置および電磁波測定方法を提供する。【解決手段】電磁波を検出するための電気光学プローブ１０１であって、電気光学結晶５２と、電気光学結晶５２と光学的に結合された光ファイバ１６とを備え、電気光学結晶５２の固有軸Ｄ２の方向と電気光学結晶５２へ入射される光ファイバ１６からの光の偏波方向とが沿うように設けられているか、または、電気光学結晶（５２）の固有軸Ｄ２の方向と光ファイバ（１６）の固有偏波方向Ｄ１とが沿うように設けられている。【選択図】図７
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
