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Ophthalmic equipment
专利权人:
株式会社トーメーコーポレーション;TOMEY CORPORATION
发明人:
山成 正宏,岡本 圭一郎,莊 心源,YAMANARI MASAHIRO,OKAMOTO KEIICHIRO,ZHUANG XIN YUAN
申请号:
JP2018185485
公开号:
JP2020054480A
申请日:
2018.09.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique capable of efficiently performing a plurality of types of measurement on an eye to be inspected. An ophthalmologic apparatus includes a first light source that outputs a first light emitted to an eye to be inspected, a second light source that outputs a second light to be emitted to an eye to be inspected, and a first light. Based on the first interference light obtained from the reflected light of the first interferometer, and based on the second interference light obtained from the reflected light of the second light And a second interferometer that performs an inspection of a second range different from the first range of the eye to be inspected. The center wavelength of the first light is different from the center wavelength of the second light. At least a part of the first optical path, which is the optical path of the first light, and the second optical path, which is the optical path of the second light, overlap. The first range inspection and the second range inspection can be executed simultaneously. [Selection diagram] Figure 1【課題】 被検眼に対する複数種類の計測を効率良く行うことができる技術を提供する。【解決手段】 眼科装置は、被検眼に照射される第1の光を出力する第1の光源と、被検眼に照射される第2の光を出力する第2の光源と、第1の光の反射光から得られる第1の干渉光に基づいて、被検眼の第1の範囲の検査を行う第1の干渉計と、第2の光の反射光から得られる第2の干渉光に基づいて、被検眼の前記第1の範囲とは異なる第2の範囲の検査を行う第2の干渉計と、を備える。第1の光の中心波長と、第2の光の中心波長が異なっている。第1の光の光路である第1光路と、第2の光の光路である第2光路の少なくとも一部が重複している。第1の範囲の検査と第2の範囲の検査とを同時に実行可能である。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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