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Scintillator array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection apparatus
专利权人:
東芝マテリアル株式会社;株式会社東芝
发明人:
林 誠,近藤 弘康,市川 浩,足達 祥卓,福田 幸洋
申请号:
JP2018555014
公开号:
JPWO2018105611A1
申请日:
2017.12.05
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
The scintillator array is provided between the first scintillator element, the second scintillator element, and the first and second scintillator elements, and the width between the first and second scintillator elements is 80 μm or less. And a body. Each of the first and second scintillator elements includes a polycrystalline body containing a rare earth oxysulfide phosphor, and the polycrystalline body has a radiation incident surface with an area of 1 mm or less × 1 mm or less. A crystal whose average crystal grain size is 5 μm or more and 30 μm or less and whose average crystal grain size is measured on an observation image obtained by observing the polycrystal using a scanning electron microscope Defined by the average intercept length of the grain. The maximum length or the maximum diameter of defects existing on the surface of the polycrystalline body is 40 μm or less.シンチレータアレイは、第1のシンチレータ素子と、第2のシンチレータ素子と、第1および第2のシンチレータ素子の間に設けられ、第1および第2のシンチレータ素子の間の幅が80μm以下である反射体と、を具備する。第1および第2のシンチレータ素子のそれぞれは、希土類酸硫化物蛍光体を含有する多結晶体を備え、多結晶体が面積1mm以下×1mm以下の放射線入射面を有する。多結晶体の結晶粒の平均結晶粒径は5μm以上30μm以下であり、平均結晶粒径が、走査型電子顕微鏡を用いて多結晶体を観察することにより得られる観察像上で測定される結晶粒の平均切片長により定義される。多結晶体の表面に存在する欠陥の最大長さまたは最大直径は、40μm以下である。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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