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薄膜トランジスタ、表示装置及び薄膜トランジスタの製造方法
专利权人:
NLTテクノロジー株式会社
发明人:
田中 淳
申请号:
JP20160138874
公开号:
JP2017085079(A)
申请日:
2016.07.13
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
【課題】低い寄生容量と高い信頼性とを両立した、酸化物半導体薄膜トランジスタ等を提供すること。【解決手段】薄膜トランジスタは、基板1と、チャネル領域21、ソース領域22及びドレイン領域23を含む酸化物半導体層2と、ゲート絶縁膜3と、ゲート電極4とを有し、前記ゲート絶縁膜3は平面視で一つ以上の形状に設けられており、前記ゲート絶縁膜3のうち最小ゲート絶縁膜のチャネル長方向の長さは、前記ゲート電極4及び前記チャネル領域21のチャネル長方向の幅よりも長く、前記ソース領22域及び前記ドレイン領域23の水素濃度は前記チャネル領域21の水素濃度よりも高く、前記ソース領域22側の前記最小ゲート絶縁膜の端から前記ソース領域22と前記チャネル領域21との境界までの距離と、前記ドレイン領域23側の
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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