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荷電粒子線ビームのスキャニング照射装置
专利权人:
三菱電機株式会社
发明人:
田尻 真也,山本 雄一,蒲 越虎,山下 晴男
申请号:
JP2008266275
公开号:
JP5430115B2
申请日:
2008.10.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inexpensive scanning irradiation device of a particle beam without using a rotating gantry.SOLUTION: The scanning irradiation device of a charged particle beam includes: a first scanning electromagnet and a second scanning electromagnet, whose deflection surfaces of the particle beam are the same, and which bend the particle beam having an incident beam axis angle of approximately 45 degrees relative to a horizontal direction in reverse directions to each other an electromagnet rotation driving mechanism which integrates the first and the second scanning electromagnets and rotates them around the incident beam axis and a treatment bed. The particle beam deflected by the first and the second scanning electromagnets is obtained at a range of -45 degrees to +45 degrees in a deflection angle from an incident beam axis direction.COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT【課題】回転ガントリを用いないで安価な粒子線ビームのスキャニング照射装置を得る。【解決手段】粒子線ビームの偏向面が同一であり、水平方向に対して略45度の入射ビーム軸角度を有する粒子線ビームを互いに逆方向に曲げる第一のスキャニング電磁石と第二のスキャニング電磁石、第一及び第二のスキャニング電磁石を一体にして前記入射ビーム軸の周りで回転させる電磁石回転駆動機構、治療台を備え、第一及び第二のスキャニング電磁石によって偏向された粒子線ビームは入射ビーム軸方向からの偏向角度が-45度~+45度の範囲で得られるようにした。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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