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Method and apparatus for a diagnostic device
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Niko Köster
申请号:
DE102014219434
公开号:
DE102014219434A1
申请日:
2014.09.25
申请国别(地区):
DE
年份:
2016
代理人:
摘要:
Bei dieser Vorrichtung und dem dazugehörigen Verfahren wird vor der Erstellung einer Röntgenaufnahme eine Messeinheit wie beispielsweise zur automatischen Belichtungsmessung auf der Oberfläche eines Röntgendetektors positioniert und eine Kalibrierung mit mindestens einem als Piezoelement ausgebildeten Justierelementes durchgeführt.In this device and the associated method, in front of the creation of an x-ray exposure a measuring unit, such as, for example, for the automatic exposure measurement on the surface of an x-ray detector is positioned and a calibration with at least one adjusting element, which is carried out as a piezo element.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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