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X射线光栅相衬成像系统及方法
专利权人:
同方威视技术股份有限公司;清华大学
发明人:
康克军,黄志峰,张丽,陈志强,李元景,刘以农,赵自然,刑宇翔
申请号:
CN200810166472.9
公开号:
CN101532969B
申请日:
2008.10.09
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本申请涉及X射线光栅相衬成像系统及方法,包括:X射线装置,向被检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束方向上,被检测物体折射的X射线经该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号;检测单元,接收强度变化的X射线并转换为电信号;和数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利用折射角信息计算出像素信息;成像单元,构建物体的图像。另外,还可用旋转结构旋转物体来实现CT成像,获得多个投影方向的折射角及相应图像,并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。根据本发明,使用通常的X光机、多缝准直器如源光栅,以及两个吸收光栅能够实现近分米量级视场的非相干条件下的相衬成像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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