基于光栅相位衬度和光子计数的X射线成像系统及方法
- 专利权人:
- 北京纳米维景科技有限公司
- 发明人:
- 郑海亮,李运祥,曹红光
- 申请号：
- CN201410137171.9
- 公开号：
- CN104970815B
- 申请日:
- 2014.04.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于光栅相位衬度和光子计数的X射线成像系统及方法。其中,X射线经光源光栅整形后,变成相干X射线,穿过样品以后的含有相位变化的相干X射线经相位光栅,形成分束的X射线,再经过分析光栅后将X射线的相位变化转化成光强的变化,然后再由光子计数探测器记录下强度不同的X射线相衬信息,通过三维重建系统得到基于相位衬度的断层影像,最终获得软组织样品的组成成份和内部精细结构信息。本发明可以用于医院病理科、放射科和科研部门对软组织样品标本的检验,有利于发现组织样品中的细小病灶等早期病变信息,大大提高检出率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
