X射线成像
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- E·勒斯尔,H·德尔
- 申请号：
- CN201680026177.6
- 公开号：
- CN107580473A
- 申请日:
- 2016.05.06
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 在经过感兴趣目标之后在探测器处接收到的X射线信号的强度是由所述感兴趣目标引起的衰减、相位变化和散射的函数。在常规的X射线系统中,不可能对这些分量进行解析。本申请讨论了对所述感兴趣目标的部分中的相位差所引起的干涉测量图案的变化不敏感的X射线测量技术。因此,接收到的强度测量仅由衰减分量和散射分量所引起。通过使用这种相位不变的成像器对感兴趣目标做出两次独立的测量,可以分离衰减分量与散射分量,从而提供由所谓的“暗场”效应引起的关于所成像的感兴趣目标的有价值的额外信息。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
