用于使用吸收来成像的系统和方法
- 专利权人:
- 麻省理工学院
- 发明人:
- D.P.哈特,F.弗里格里奥,D.M.马里尼
- 申请号：
- CN201510237640.9
- 公开号：
- CN104864818B
- 申请日:
- 2009.07.24
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 介质的衰减和其他光学属性被利用以测量传感器和目标表面之间的介质的厚度。此处公开的是各种介质,硬件的布置,以及被用来捕获这些厚度测量并获得各种成像背景中的目标表面的三维图像的处理技术。这包括用于为内部/凹表面以及外部/凸表面成像,以及为耳道、人齿列等等成像的这些技术的特定适配的一般技术。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
