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X射线辐射的检测
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- E.戈德尔,S.卡普勒
- 申请号：
- CN201410478754.8
- 公开号：
- CN104459756A
- 申请日:
- 2014.09.18
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种X射线检测器(100)，具有检测单元(10)，其产生对于击中检测单元(10)的X射线辐射(XR)的检测信号，和信号分析模块(30)，其基于检测信号和预定的信号分析参数(P1，P2)确定一组计数率(R1，R2，R1'，R2')，切换控制单元(40)，用于在第一(P1)和第二信号分析参数(P2)之间的切换，从而基于第一信号分析参数产生对于第一时间段(Δt1)的第一组计数率(R1，R1')和基于第二信号分析参数产生对于第二时间段(Δt2)的第二组计数率(R2，R2')。本发明还涉及一种具有这样的检测器的X射线成像系统以及一种用于使用这样的检测器确定对于X射线辐射的计数率的方法，和一种用于使用这样的检测器校准信号分析参数的方法。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
