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X선 검사 장치
专利权人:
ZETTAIMAGINE CO.; LTD.
发明人:
SHIN, YOUNG HOONKR,신영훈
申请号:
KR1020160027916
公开号:
KR1020170105181A
申请日:
2016.03.08
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
An X-ray inspection apparatus is disclosed. The X-ray inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes an X-ray irradiator a subject table on which a subject is placed an X-ray detector disposed under the subject table and a grid member disposed between the subject table and the X-ray detector and including a plurality of X-ray transmitting holes arrayed with line symmetry around a symmetric axis in parallel to the width direction of the grid member. When the X-ray inspection apparatus is in an initial setting mode, the X-ray irradiator is disposed in an initial irradiation position to be aligned with the symmetric axis of the grid member. The subject table is disposed in the initial table position to array a preset reference point in the symmetric axis of the grid member. When the X-ray irradiator has an oblique irradiation posture, the subject table is horizontally moved along a longitudinal direction and is disposed on an adjustment table including a positional difference with respect to the initial table position. Accordingly, the present invention can prevent the degradation of the quality of an X-ray image.COPYRIGHT KIPO 2017X선 검사 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검사 장치는, X선 조사부 피검사체가 놓여지는 피검체 테이블 상기 피검체 테이블 아래에 배치되는 X선 디텍터 및 상기 피검체 테이블과 상기 X선 디텍터 사이에 배치되는 그리드 부재로서, 상기 그리드 부재의 폭 방향에 평행한 대칭축을 중심으로 선대칭으로 배열되는 복수의 X선 투과홀들을 가진 그리드 부재를 포함하며, 상기 X선 검사 장치가 초기 설정 모드에 있을 때, 상기 X선 조사부는 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 조사부 위치에 배치되고, 상기 피검체 테이블은 기 설정된 기준 지점이 상기 그리드 부재의 대칭축에 정렬되는 초기 테이블 위치에 배치되며, 상기 X선 조사부가 경사 조사 자세를 가질 때, 상기 피검체 테이블은 길이 방향을 따라 수평 이동되어 초기 테이블 위치에 대해 위치 차이를 가진 조정 테이블 위치에 배치된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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