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X-RAY INSPECTION APPARATUS
专利权人:
LTD.;ISHIDA CO.
发明人:
Shingo KONDO
申请号:
US16356903
公开号:
US20190297717A1
申请日:
2019.03.18
申请国别(地区):
US
年份:
2019
代理人:
摘要:
An X-ray inspection apparatus includes: an X-ray emitter configured to emit an X-ray; an X-ray detector configured to detect the X-ray; a first flow passage configured to guide air to at least part of the X-ray detector; and a second flow passage configured to guide air to at least part of the X-ray detector.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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