[Problem] To provide a slit lamp microscope capable of improving test precision without burdening a subject. [Solution] A slit lamp microscope comprising: an illumination system that has a light source for outputting illumination light, and shines, upon a subject eye, observation light of limited area by passing the illumination light through a beam controlling part, the area of an opening of which can be altered； an observational system for observing observation light returning from the subject eye； and a control unit for controlling at least the operation of the illumination system； the microscope comprising a slit opening area detector for detecting the area of the opening； and the control unit controlling the intensity of the light source on the basis of the opening area detected by the opening area detector.Le problème décrit par la présente invention est de fournir un microscope à lampe à fente capable d'améliorer la précision d'essai sans pénibilité pour un sujet. La solution selon l'invention porte sur un microscope à lampe à fente comprenant : un système d'éclairage qui comporte une source de lumière destinée à émettre une lumière d'éclairage, et éclaire, sur l'œil d'un sujet, une lumière d'observation de zone limitée, en faisant passer la lumière d'éclairage à travers une partie de commande de faisceau, dont la zone d'une ouverture peut être modifiée ； un système d'observation destiné à observer la lumière d'observation revenant de l'œil du sujet ； et une unité de commande destinée à commander au moins le fonctionnement du système d'éclairage ； le microscope comprenant un détecteur de zone d'ouverture de fente destiné à détecter la zone de l'ouverture ； et l'unité de commande commandant l'intensité de la source de lumière sur la base de la zone d'ouverture détectée par le détecteur de zone d'ouverture.【課題】 被検者に負担を与えることなく検査精度を向上させることができるスリットランプ顕微鏡を提供する。 【解決手段】 照明光を出力する光源を有し、前記照明光が開口部の面積を変更可能な光束制御部を通過することにより面積を制限した観察光を被検眼に照射する照明系と、前記観察光の被検眼からの戻り光を観察する観察系と、少な
