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SLIT-LAMP MICROSCOPE
专利权人:
TOPCON CORP;株式会社トプコン
发明人:
MORISHIMA SHUNICHI,森嶋 俊一,NAKAJIMA MASASHI,中島 将
申请号:
JP2019160833
公开号:
JP2020062380A
申请日:
2019.09.04
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit-lamp microscope capable of improving observation function of an eye to be examined, while aiming at space saving.SOLUTION: A slit-lamp microscope includes a wavelength selection member arranged on a route of light from an illumination light source provided on a projector having a lens, capable of changing a wavelength selection characteristic on an approximately optically-conjugate position with the illumination light source, and a slit formation part for forming slit light from light passing through the wavelength selection member, and further includes an illumination system for illuminating an eye to be examined with slit light, and an observation system for guiding return light of slit light from the eye to be examined to an imaging device.SELECTED DRAWING: Figure 2COPYRIGHT: (C)2020,JPO&INPIT【課題】省スペース化を図りつつ被検眼の観察機能の向上が可能な細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】細隙灯顕微鏡は、レンズを有するプロジェクタに設けられた照明光源からの光の経路に配置され、前記照明光源と光学的に略共役な位置において波長選択特性を変更可能な波長選択部材と、前記波長選択部材を通過した光から細隙光を形成する細隙形成部とを備え、前記細隙光で被検眼を照明する照明系と、前記被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置に導く観察系と、を含む。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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