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細隙灯顕微鏡
专利权人:
TOPCON CORP
发明人:
YAMAMOTO SATOSHI,山本 諭史
申请号:
JP2015043216
公开号:
JP2016159073A
申请日:
2015.03.05
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit lamp microscope capable of acquiring wide range images of an eye to be examined.SOLUTION: A slit lamp microscope comprises an illumination system 8 and an imaging system 6. The illumination system 8 includes an illumination focusing mechanism 50. The illumination system 8 illuminates an eye E to be examined with slit light. The illumination focusing mechanism 50 is used for changing a focus position of the slit light. The imaging system 8 guides return light of the slit light from the eye to be examined to an imaging device 13.SELECTED DRAWING: Figure 2COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】被検眼の広域の画像を取得することが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】細隙灯顕微鏡は、照明系8と、撮影系6とを含む。照明系8は、照明合焦機構50を含む。照明系8は、被検眼Eを細隙光で照明する。照明合焦機構50は、細隙光のフォーカス位置を変更するために用いられる。撮影系8は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置13に導く。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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