A high quality slit lamp microscope inspection is widely provided. A slit lamp microscope according to an exemplary embodiment includes an illumination system, a photographing system, a moving mechanism, and a moving image photographing system. The illumination system irradiates slit light to the anterior segment of the eye to be examined. The imaging system includes an optical system that guides light from the anterior segment to which the slit light is applied, and an imaging device that receives light guided by the optical system on an imaging surface. The moving mechanism moves the illumination system and the imaging system. The object surface along the optical axis of the illumination system, the optical system, and the imaging surface satisfy the Scheimpflug condition. The imaging system acquires a plurality of images of the anterior segment by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system by the moving mechanism. The moving image capturing system captures a moving image of the anterior eye from a fixed position in parallel with acquisition of a plurality of images by the capturing system. [Selection diagram] FIG.【課題】高品質なスリットランプ顕微鏡検査を広く提供する。【解決手段】例示的な実施形態のスリットランプ顕微鏡は、照明系と、撮影系と、移動機構と、動画撮影系とを含む。照明系は、被検眼の前眼部にスリット光を照射する。撮影系は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く光学系と、この光学系により導かれた光を撮像面で受光する撮像素子とを含む。移動機構は、照明系及び撮影系を移動する。照明系の光軸に沿う物面と光学系と撮像面とは、シャインプルーフの条件を満足する。撮影系は、移動機構による照明系及び撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより前眼部の複数の画像を取得する。動画撮影系は、撮影系による複数の画像の取得と並行して前眼部を固定位置から動画撮影する。【選択図】図５
