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SLIT-LAMP MICROSCOPE
专利权人:
NIDEK CO LTD;株式会社ニデック
发明人:
NAKAMURA KOICHI,中村 弘一
申请号:
JP2015236084
公开号:
JP2017099719A
申请日:
2015.12.02
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simple structure slit-lamp microscope capable of suitably observing a patient's eye using an optical filter.SOLUTION: A slit-lamp microscope for observing or imaging a subject's eye comprises: a light source emitting visible light; an illumination optical system illuminating the subject's eye; and a first optical filter disposed in an illumination light path of the illumination optical system and obtaining green light by allowing the light from the light source to pass therethrough. The first optical filter is an optical interference filter. The characteristics of the first optical filter include a transmissivity of 70% or more in 450-550 nm and 10% or less in 610-700 nm.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】 簡素な構成により、光学フィルターを用いて患者眼を好適に観察できる細隙鏡顕微鏡を提供する。【解決手段】 被検者眼を観察又は撮影する細隙鏡顕微鏡は、可視光を発する光源を有し、被検者眼を照明する照明光学系と、照明光学系の照明光路に配置されて、光源から発せられた光を透過させてグリーン光を得る第1の光学フィルターとを備える。第1の光学フィルターは光学干渉フィルターである。また、第1の光学フィルターの特性は、450~550nmの透過率が70%以上であり、且つ、610~700nmの透過率が10%以下である。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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