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Slit lamp microscope
专利权人:
株式会社トプコン
发明人:
水野 晃,山本 諭史
申请号:
JP2019042777
公开号:
JP2020141998A
申请日:
2019.03.08
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to provide a slit lamp microscope capable of preventing the keratin of light irradiated to the eye to be examined and performing a good observation of the eye to be examined.A slit lamp emitting slit light andA deflection optical element for deflecting a slit light emitted from a slit lamp toward an eye to be examined and a deflection optical element provided above the slit lamp, andA microscope having an objective lens and observing an eye to be examinedA plurality of types of light sources having an illumination optical axis disposed only above the deflecting optical element in the microscope and parallel to the optical axis of the objective lens;A plurality of types of light sources that irradiate different types of light to the eye to be examined for each type of light source.Diagram【課題】被検眼に照射される光のケラレを防止し且つ被検眼の良好な観察を行うことができる細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】スリット光を出射する細隙灯と、細隙灯から出射されたスリット光を被検眼に向けて偏向する偏向光学素子であって且つ細隙灯よりも上方位置に設けられた偏向光学素子と、対物レンズを有し且つ被検眼を観察するための顕微鏡と、顕微鏡における偏向光学素子よりも上方位置のみに設けられ且つ対物レンズの光軸と平行な照明光軸を有する複数種類の光源であって、光源の種類ごとに互いに異なる種類の光を被検眼に対して照射する複数種類の光源と、を備える。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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