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Slit lamp microscope
专利权人:
株式会社トプコン
发明人:
水野 晃,山本 諭史
申请号:
JP2019042778
公开号:
JP2020141999A
申请日:
2019.03.08
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit lamp microscope capable of preventing eclipse of specific light and performing good observation of an eye to be inspected. An illumination system that irradiates an eye to be inspected with slit light, and an observation system for observing the eye to be inspected, the relay optics provided between an objective lens, an eyepiece lens, and an objective lens and an eyepiece lens. It includes an observation system including a system, and a specific light irradiation system provided in the relay optical system and irradiating a specific light different from the slit light toward the eye to be inspected. [Selection diagram] Fig. 4【課題】特定光のケラレを防止し且つ被検眼の良好な観察を行うことができる細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】スリット光を被検眼に照射する照明系と、被検眼を観察するための観察系であって、対物レンズと、接眼レンズと、対物レンズ及び接眼レンズの間に設けられたリレー光学系と、を備える観察系と、リレー光学系に設けられ、スリット光とは異なる特定光を被検眼に向けて照射する特定光照射系と、を備える。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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