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低屈折率のアモルファス透明導電膜作製用焼結体及び低屈折率のアモルファス透明導電膜
专利权人:
JX金属株式会社
发明人:
奈良 淳史
申请号:
JP20140535838
公开号:
JPWO2014112209(A1)
申请日:
2013.11.26
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
亜鉛(Zn)、及び、ガリウム(Ga)又はアルミニウム(Al)又はホウ素(B)、及び、ゲルマニウム(Ge)又はケイ素(Si)、及び、マグネシウム(Mg)、及び、酸素(O)、及び、フッ素(F)からなり、ガリウム(Ga)又はアルミニウム(Al)又はホウ素(B)の含有量がGa2O3又はAl2O3又はB2O3換算でAmol%、ゲルマニウム(Ge)又はケイ素(Si)の含有量がGeO2又はSiO2換算でBmol%、マグネシウム(Mg)の含有量がMgF2換算でCmol%としたとき、10≦A+B+C≦70であることを特徴とする焼結体。特に、バルク抵抗が低くDCスパッタリングが可能であり、低屈折率のアモルファス薄膜を形成することができる。【選択図】なし
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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