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METHOD AND DEVICE FOR MEASURING CONDUCTIVITY INFORMATION AND CORRESPONDING MAKERS
专利权人:
发明人:
申请号:
EP10743240.3
公开号:
EP2452202A1
申请日:
2010.07.06
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要:
The invention provides a marker (20). The marker (20) comprises a circuit (22) actuated by a first frequency into conductive status to track position information of an object (40). The circuit (22) of the marker (20) is in a non-conductive status based on the second frequency, and the first frequency is not in the range of the second frequency for measuring the conductivity information of the object (40). The invention further provides a device for measuring conductivity information of the object by generating the first frequency and the second frequency.Linvention concerne un repère (20). Le repère (20) comprend un circuit (22) actionné par une première fréquence dans un état conducteur pour suivre les informations de position dun objet (40). Le circuit (22) du repère (20) est dans un état non conducteur basé sur la seconde fréquence, et la première fréquence nest pas dans la plage de la seconde fréquence pour mesurer les informations de conductivité de lobjet (40). Linvention concerne en outre un dispositif permettant de mesurer les informations de conductivité de lobjet par lintermédiaire de la génération de la première fréquence et de la seconde fréquence.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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