Disclosed is methods, systems, apparatuses and computer programs for estimating a measure of the gain and offset of a converter (200). The converter is used for generating, based on digital settings, reference voltages to be used as thresholds by a comparator (10, 20) in a photon-counting detector in an x-ray imaging system. The method comprises the steps of selecting (S1 ) a first converter to act as a reference converter (100) and a second converter to act as a target converter (200). The method also comprises the step of assigning (S2) different digital settings to the reference converter (100), in order to generate at least two different reference voltages (R) to be used as thresholds by a comparator associated with the reference converter (100). The method also comprises the step of obtaining (S3), based on photon count measurements, information representing the number of photons registered in a photon counter associated with a comparator (20) whose reference voltage is generated by the target converter (200). Based on the obtained information representing the number of photons and the at least two digital settings, the method determines an estimate of the gain and offset of the target converter relative the reference converter.L'invention concerne des procédés, des systèmes, des appareils et des programmes informatiques pour estimer une mesure du gain et du décalage d'un convertisseur (200). Le convertisseur est utilisé pour générer, sur la base de paramètres numériques, des tensions de référence à utiliser comme seuils par un comparateur (10, 20) dans un détecteur de comptage de photons d'un système d'imagerie à rayons X. Le procédé comprend les étapes consistant à sélectionner (S1) un premier convertisseur devant fonctionner comme convertisseur de référence (100) et un second convertisseur devant fonctionner comme convertisseur cible (200). Le procédé comprend également l'étape consistant à attribuer (S2) différents paramètres numériques au convertisseur de
