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博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法
专利权人:
复旦大学;上海博物馆
发明人:
孔令东,张敏,陈建民,吴来明,周新光,解玉林,王克华
申请号:
CN200710045193.2
公开号:
CN101109692B
申请日:
2007.08.23
申请国别(地区):
中国
年份:
2011
代理人:
陆飞`盛志范
摘要:
本发明属于材料测试技术领域,具体为一种博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法。本发明运用现代成熟的镀膜技术在不同基质材料表面镀制厚度为100-300nm纳米级银、铜粒子薄膜,得到所需金属薄膜试片。本发明可大幅度减少金属原材料的用量,并简化操作,降低成本;可避免块状金属试片所带来的实验数据重复性差的不足,有利于数据化分析腐蚀前后试片的差异,避免传统的Oddy Test法所采用的肉眼观察而带来的人为误差。并可大大减少试验周期,便于大规模推广和应用。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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