博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法
- 专利权人:
- 复旦大学;上海博物馆
- 发明人:
- 孔令东,张敏,陈建民,吴来明,周新光,解玉林,王克华
- 申请号：
- CN200710045193.2
- 公开号：
- CN101109692A
- 申请日:
- 2007.08.23
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2008
- 代理人:
- 陆飞`盛志范
- 摘要：
- 本发明属于材料测试技术领域，具体为一种博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法。本发明运用现代成熟的镀膜技术在不同基质材料表面镀制厚度为100－300nm纳米级银、铜粒子薄膜，得到所需金属薄膜试片。本发明可大幅度减少金属原材料的用量，并简化操作，降低成本；可避免块状金属试片所带来的实验数据重复性差的不足，有利于数据化分析腐蚀前后试片的差异，避免传统的Oddy Test法所采用的肉眼观察而带来的人为误差。并可大大减少试验周期，便于大规模推广和应用。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
