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一种微米级线式聚焦扫描显微光谱光学相干层析成像系统
专利权人:
南京师范大学
发明人:
聂守平,沈加伟,狄云松,徐寅林,邢芳俭
申请号:
CN202110637225.8
公开号:
CN113317784A
申请日:
2021.06.08
申请国别(地区):
CN
年份:
2021
代理人:
摘要:
本发明公开了一种微米级线式聚焦扫描显微光谱光学相干层析成像系统,包括光源光路、参考臂光路、样品臂光路、光谱仪光路、分束器。分束器的第一面与光源光路相通,分束器的第二面与参考臂光路相通,分束器的第三面与样品臂光路相通,分束器的第四面与光谱仪光路相通。宽带照明光源使用的是500~600nm范围的光谱。干涉光谱中调制有成像样品的不同深度的后向散射信息,通过对其进行傅立叶变换及进一步的处理可以得到样品的深度信息。通过线式的照明模式,可在二维阵列相机上并行采集被测样品的侧切图像。该系统主要用于三维显微成像领域。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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