通过光学相干断层成像术测量对象的内部尺寸的系统和方法

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专利权人:

威孚莱有限公司

发明人:

克劳斯·沃格勒,克里斯蒂安·维尔纳,克劳迪娅·格舍博特,克里斯托夫·德尼茨基

申请号：

CN201180070052.0

公开号：

CN103491855A

申请日:

2011.02.15

申请国别(地区):

CN

年份:

2014

代理人:

摘要：

提供了一种用于光学地测量样本对象（10）的内部尺寸的系统（OCT12-OCT12'''），例如测量眼睛（20）的内部尺寸的系统，所述对象包括内部界面（14、14'、14''），在该内部界面（14、14'、14''）处折射率发生变化以使入射光的一部分被反射回和/或散射回并能够通过光学相干断层成像术（OCT）被检测，所述系统包括：至少一个被配置为测量所述对象（10）的第一部分体积（17）中的内部尺寸的第一OCT设备（OCT1），其特点是结合有至少一个被配置为测量同一所述对象（10）的第二部分体积（19）中的内部尺寸的第二OCT设备（OCT2），其中，所述第二部分体积（19）至少部分地不同于所述第一部分体积（17）。所述第一OCT设备和所述第二OCT设备（OCT1、OCT2）可共用空间上至少部分重叠的第一样本臂和第二样本臂（SA1、SA2），所述第一样本臂和第二样本臂（SA1、SA2）可分别具有不同的焦距（f1、f2）并通过公共光学透镜系统（L12）通向所述对象，且可共用公共光源（LS12）。在单次测量操作中，通过光学相干断层成像术（OCT），以不同的空间分辨率对所述对象的第一部分体积（17）中的内部尺寸和同一所述对象（10）的第二部分体积（19）中的内部尺寸进行测量。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/