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借光学相干断层成像术测量对象的内部尺寸的系统和方法
- 专利权人:
- 视乐有限公司
- 发明人:
- 克劳斯·沃格勒,克里斯蒂安·维尔纳,克劳迪娅·格舍博特,克里斯托夫·德尼茨基
- 申请号：
- CN201610320352.4
- 公开号：
- CN105942967B
- 申请日:
- 2011.02.15
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本公开提供了一种借光学相干断层成像术测量对象的内部尺寸的系统和方法。所述系统包括:至少一个第一光学相干断层成像术OCT设备(OCT1),被适配为测量所述对象(10)的第一部分体积(17)中的内部尺寸,以及至少一个第二OCT设备(OCT2),被配置为测量同一所述对象(10)的第二部分体积(19)中的内部尺寸,其中,所述第二部分体积(19)至少部分不同于所述第一部分体积(17),其中所述第一OCT设备(OCT1)被适配为发出发出第一辐射的第一光束(B1),所述第一辐射具有在由第一工作波长(λ1)和第一带宽(Δλ1)限定的第一波长范围内的波长;其中所述第二OCT设备(OCT2)被适配为发出第二辐射的第二光束(B2),所述第二辐射具有在由第二工作波长(λ2)和第二带宽(Δλ2)限定的第二波长范围内的波长。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
