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用于多能组织量化的设备和方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- A.克里斯顿,P.A.J.兰布,P.R.多斯桑托斯蒙唐卡,工藤正幸,佐佐木公祐,S.森古普塔,R.博蒂卡,L.鲁斯科,B.达斯,S.D.沃伦韦伯,F.科瓦奇
- 申请号：
- CN201310281264.4
- 公开号：
- CN103519838B
- 申请日:
- 2013.07.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 用于多能组织量化的设备包括x射线成像系统,该x射线成像系统包括:x射线源,其配置成朝要成像的对象发射x射线束;检测器,其配置成接收由该对象衰减的x射线;以及数据采集系统(DAS),其操作地耦合于该检测器。对操作地连接到该x射线源和DAS的计算机编程以促使该x射线源以第一kVp和第二kVp中的每个朝该检测器发射x射线、从以第一和第二kVp发射通过感兴趣区域(ROI)的x射线采集x射线数据,并且基于采集的x射线数据执行第一多物质分解。还对该计算机编程以基于该第一多物质分解将ROI中第一物质的体积分数量化并且向用户显示该第一物质的体积分数。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
