The purpose of the invention is to allow, without electrically contacting to a plurality of terminals connected to an oscillator, a test for screening for defects in an IC internal transceiver circuit to be carried out at low cost and without exceeding the breakdown voltage. A transmission-reception separating switch circuit that uses a transistor as a switching element prevents the gate-source breakdown voltage from being exceeded when a large amplitude signal is input by way of the gate potential during testing being lowered below same during reception and performs an internal signal loopback test without damaging a reception circuit.Le but de l'invention est de permettre, sans réaliser un contact électrique avec une pluralité de bornes connectées à un oscillateur, de réaliser un test de recherche de défauts dans un circuit émetteur-récepteur interne à circuit intégré, avec de faibles coûts et sans dépasser la tension de claquage. Un circuit de commutation de séparation de transmission-réception qui utilise un transistor en tant qu'élément de commutation empêche la tension de claquage de grille-source d'être dépassée lorsqu'un signal de grande amplitude est entré en abaissant le potentiel de grille pendant le test pendant la réception et effectue un essai en boucle d'un signal interne sans endommager un circuit de réception.振動子に接続される多数の端子に電気的接触を行うことなしに、低コストかつ耐圧違反なくＩＣ内送受信回路の不良をスクリーニングするためのテストを可能とする。 トランジスタをスイッチ素子とする送受分離スイッチ回路において、テスト時はゲートの電位を受信時よりも下げることで大振幅信号入力時のゲート－ソース間耐圧違反を避け、受信回路を破壊することなく内部信号ループバックテストを行う。
