an x-ray inspection system is provided for scanning items. the system includes: a stationary x-ray source extending around a rectangular scan volume, and defining multiple source points from which x-rays can be directed through the scan volume； an array of x-ray detectors also extending around the rectangular scan volume and arranged to detect x-rays from the source points that have passed through the scan volume； a conveyor arranged to transport the items through the scan volume； and at least one processor to process the detected x-rays to produce scan images of the items.é fornecido um sistema de inspeção de raios x para a varredura de itens. o sistema inclui: uma fonte de raios x estacionária estendendo ao redor de um volume de varredura retangular, e definindo múltiplos pontos de fonte a partir dos quais os raios x podem ser direcionados através do volume de varredura； uma matriz de detectores de raios x também estendendo ao redor do volume de varredura retangular e disposta para detectar raios x a partir dos pontos de fonte que passaram pelo volume de varredura； um transportador disposto para transportar os itens através do volume de varredura； e pelo menos um processador para processar os raios x detectados para produzir imagens de varredura dos itens.
