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A REDUCED-PAIN ALLERGY SKIN TEST DEVICE
专利权人:
HARISH; M.D.; Ziv
发明人:
HARISH, M.D., Ziv,RUBINSTEIN, Isaac,ARBIT, Ehud,WEINZIMMER, Russ
申请号:
USUS2011/055575
公开号:
WO2012/051100A3
申请日:
2011.10.10
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要:
An allergy skin test device is disclosed that causes less pain than commonly used devices that include multi-point sharp puncture heads. The allergy skin test device incorporates multiple dull pressure heads distributed amongst the sharp multi-point sharp puncture heads, each dull pressure head activating a neurological pain gate that reduces pain sensation typically caused by the neighboring multi-point head when it engages the skin.La présente invention concerne un dispositif de test cutané dallergie qui cause moins de douleur que les dispositifs couramment utilisés qui comprennent des têtes de piqûre tranchantes multipoints. Le dispositif de test cutané dallergie incorpore des têtes de pression émoussées multiples réparties parmi les têtes de piqûre tranchantes multipoints, chaque tête de pression émoussée activant une porte de douleur neurologique qui réduit la sensation de douleur typiquement causée par la tête multipoint voisine lorsquil engage la peau.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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