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DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR ULTRASONS ET SONDE ULTRASONORE
专利权人:
LTD.;HITACHI, LTD.;株式会社日立製作所;HITACHI
发明人:
MASUZAWA, Hiroshi,鱒沢裕
申请号:
JPJP2015/072576
公开号:
WO2017/026019A1
申请日:
2015.08.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
Provided is a sub-beamformer whereby a plurality of capacitors (charge storage regions) of a delay circuit can be controlled by a small number of signal lines. The ultrasonic probe according to the present invention houses a plurality of oscillators arranged in two dimensions, and a substrate on which delay circuits connected to each of the plurality of oscillators, and a plurality of signal lines for setting a delay amount in the delay circuits are mounted. The delay circuits are configured so that each of a first delay amount and a second delay amount can be set, and the delay circuits delays a signal by a delay amount obtained by adding the first delay amount and the second delay amount. The plurality of delay circuits are divided into a plurality of groups, arranged in a row direction and a column direction for each group, and mounted on the substrate, and a first delay amount shared for the delay circuits aligned in the same row and a second delay amount shared for the delay circuits aligned in the same column are each set by the signal lines.La présente invention concerne un sous-dispositif de formation de faisceaux, plusieurs condensateurs (régions de stockage de charge) d'un circuit à retard pouvant ainsi être commandés par un petit nombre de lignes de signaux. La sonde ultrasonore selon la présente invention loge plusieurs oscillateurs agencés dans deux dimensions, et un substrat sur lequel sont montés des circuits à retard connectés à chacun desdits oscillateurs, et plusieurs lignes de signaux destinées à définir une quantité de retard dans les circuits à retard. Les circuits à retard sont conçus pour pouvoir définir une première quantité de retard et une seconde quantité de retard, et les circuits à retard retardent un signal par une quantité de retard obtenue en additionnant la première quantité de retard et la seconde quantité de retard. La pluralité des circuits à retard sont divisés en une pluralité de groupes, agencés dans une direction de rangée et
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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