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X射线成像参考扫描
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- A·亚罗申科,T·克勒,P·B·T·诺埃尔,F·德马尔科,L·B·格罗曼,K·维勒
- 申请号：
- CN201880061786.4
- 公开号：
- CN111107787A
- 申请日:
- 2018.21.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及获取用于X射线相衬成像和/或X射线暗场成像的参考扫描数据。因此,X射线探测器(26)在X射线源(12)与X射线探测器之间布置光栅布置(18)的情况下跨检查区域(30)与X射线源(12)相对地布置。在没有对象处在检查区域(30)中的成像操作期间,光栅布置(18)在扫描运动中被移动到相对于X射线探测器(26)的多个不同位置(α),同时X射线探测器(26)相对于检查区域(30)保持固定,使得在扫描运动中由X射线探测器(26)探测一系列条纹图案。针对不同系列条纹图案来重复所述扫描运动。这允许以较少的扫描运动来获取用于校准X射线成像设备(10”)所需的参考扫描数据。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
