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具有全视场探测器的扫描X射线装置
专利权人:
皇家飞利浦有限公司
发明人:
T·克勒,G·马滕斯,R·普罗克绍,H-I·马克,U·范斯特文达勒,F·普法伊费尔,P·诺埃尔,M·冯托伊芬巴赫
申请号:
CN201680038573.0
公开号:
CN107847199A
申请日:
2016.06.24
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
一种具有干涉仪(IF)和X射线探测器(D)的X射线成像装置。所述X射线探测器(D)的覆盖范围大于所述干涉仪(IF)的覆盖范围。所述干涉仪在扫描运动中跨所述探测器(D)移动,同时所述探测器(D)保持静止。优选地,所述探测器是2D全视场探测器。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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