您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

半導體X射線檢測器
专利权人:
LTD.;SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO.
发明人:
CAO, PEIYAN,曹培炎
申请号:
TW105110431
公开号:
TW201640142A
申请日:
2016.03.31
申请国别(地区):
TW
年份:
2016
代理人:
摘要:
An apparatus for detecting X-ray comprises: an X-ray absorption layer comprising an electrode, a first voltage comparator configured to compare a voltage of an electrode to a first threshold, a second voltage comparator configured to compare the voltage to a second threshold, a counter configured to register a number of X-ray photons absorbed by the X-ray absorption layer, a controller. The controller is configured to start a time delay from a time at which the first voltage comparator determines that an absolute value of the voltage equals or exceeds an absolute value of the first threshold, activate the second voltage comparator during the time delay, and cause the number registered by the counter to increase by one, if, during the time delay, the second voltage comparator determines that an absolute value of the voltage equals or exceeds an absolute value of the second threshold.用於檢測X射線的裝置,其包括:X射線吸收層,其包括電極;第一電壓比較器,其配置成將電極的電壓與第一閾值比較;第二電壓比較器,其配置成將該電壓與第二閾值比較;計數器,其配置成記錄X射線吸收層所吸收的X射線光子的數目;控制器;該控制器配置成從第一電壓比較器確定電壓的絕對值等於或超出第一閾值的絕對值的時間啟動時間延遲;控制器配置成在時間延遲期間啟動第二電壓比較器;控制器配置成如果在時間延遲期間第二電壓比較器確定電壓的絕對值等於或超出第二閾值的絕對值則促使計數器記錄的數目增加一。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充