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גלאי קרני x מוליך למחצה
专利权人:
SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO. LTD.
发明人:
申请号:
IL25452617
公开号:
IL254526A
申请日:
2017.09.17
申请国别(地区):
IL
年份:
2019
代理人:
摘要:
Disclosed herein is an apparatus for detecting X-ray. The apparatus has an X-ray absorption layer with an electrode, one or more voltage comparators configured to compare a voltage of the electrode to one or more thresholds, a counter configured to register the number of X-ray photons absorbed by the X-ray absorption layer, and a controller.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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