Provided are a calibration apparatus and calibration method whereby a plurality of calibration items can be carried out in one operation. The present invention is provided with a standard reflection plate (43) which is arranged at a position separated by the predetermined distance (L) from the distal end part of the measurement probe (3) in a state where the measurement probe (3) has been inserted into the insertion part (41a), which has within the irradiated surface a uniform reflectance in the wavelength range to be measured, and which has stable reflection properties. The scattering mean free path of the material constituting the standard reflection plate (43) is greater than the spatial coherence length (Lsc) established by using the predetermined distance (L) of the standard reflection plate (43).La présente invention concerne un appareil détalonnage et un procédé détalonnage dans lesquels une pluralité déléments détalonnage peuvent être effectués en une opération. La présente invention comprend une plaque de réflexion standard (43) qui est agencée à une position séparée par la distance prédéterminée (L) de la partie dextrémité distale de la sonde de mesure (3) dans un état dans lequel la sonde de mesure (3) a été insérée dans la partie dinsertion (41a), qui a, dans la surface irradiée, un facteur de réflexion uniforme dans la plage de longueur donde à mesurer, et qui a des propriétés de réflexion stable. Le trajet libre moyen de diffusion du matériau constituant la plaque de réflexion standard (43) est supérieur à la longueur de cohérence spatiale (Lsc) établie en utilisant la distance prédéterminée (L) de la plaque de réflexion standard (43).複数の校正項目を1回の操作で行うことができる校正装置および校正方法を提供する。測定プローブ3が挿入部41aに挿入された状態で測定プローブ3の先端部から所定の距離L離れた位置に配置され、測定対象波長範囲で反射率が照射面内で一様であるとともに、反射特性が安定した標準反射板43と、を備え、標準反射板43が所定の距離Lを用いて定められる空間コヒーレンス長Lscよりも標準反射板43を構成する材料の散乱平均自由行程が大きい。
