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微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム
专利权人:
ソニー株式会社
发明人:
ブルン マルクオレル,佐藤 一雅,大森 真二,勝本 洋一
申请号:
JP20140560658
公开号:
JPWO2014122873(A1)
申请日:
2013.12.26
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
標識物質を用いなくても、個々の微小粒子を精度よく識別し、分取することが可能な微小粒子分析装置及び微小粒子分析システムを提供する。微小粒子分析装置に、複数の微小粒子を含む液が導入されるサンプル流路と、このサンプル流路の少なくとも一部に交流電場を形成するための第1の電極対と、第1の電極対間のインピーダンスを測定する測定部と、測定部で測定されたインピーダンスから微小粒子の特性値を算出する解析部と、測定部で測定されたインピーダンスのデータが、微小粒子に由来するものか否かを判定する判定部とを設ける。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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