微小粒子状物質分析装置
- 专利权人:
- 株式会社堀場製作所
- 发明人:
- 松本 絵里佳,水野 裕介
- 申请号：
- JP20150234998
- 公开号：
- JP2017102008(A)
- 申请日:
- 2015.12.01
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】微小粒子状物質分析装置において、測定空間に含まれる微小粒子状物質の濃度と、当該微小粒子状物質に放射性物質が含まれているか否かを同時に分析する。【解決手段】分析装置１００は、捕集フィルタ１と、分析部と、を備える。捕集フィルタ１は、微小粒子状物質ＦＰを捕集可能な捕集領域を有する。分析部は、捕集領域に捕集された微小粒子状物質ＦＰの質量濃度と、当該微小粒子状物質ＦＰから発生する放射線量と、を測定する。【選択図】図１
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
