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光干渉計測データ読出方法、光干渉断層診断装置および光干渉断層診断システム
专利权人:
CANON INC
发明人:
OYAMA KENJI,大山 賢司,NABA TAKASHI,那波 孝
申请号:
JP2010157683
公开号:
JP2012021794A
申请日:
2010.07.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten processing time from measurement up to diagnosis by reducing a data size concerned with processing of optical interference tomography diagnosis without deteriorating measurement accuracy in the processing of optical interference measurement data by an optical interference tomography diagnostic apparatus.SOLUTION: In FD-OCT for acquiring tomographic information from optical spectral information, data to be read out in optical interference measurement data are determined based on measurement depth of measurement light by using the measurement depth of measurement light and the characteristics of interference light to be measured, and only the determined data out of the optical interference measurement data is read out.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】 光干渉断層診断装置における光干渉計測データの処理において、計測精度を劣化させることなく光干渉断層診断の為の処理に係るデータサイズを削減して、計測から診断までの処理時間を低減すること。【解決手段】 光スペクトル情報から断層情報を取得するFD-OCTにおいて、計測光の計測深度と計測される干渉光の特性を利用して、計測光の計測深度に基づいて光干渉計測データ中の読み出すべきデータを決定し、当該光干渉計測データはこの決定されたデータのみが読み出される。【選択図】 図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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